WEIBULL PARAMETER-ESTIMATION

被引：2
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作者：
FUNG, K [1 ]
JARDINE, AKS [1 ]
机构：
[1] ROYAL MIL COLL CANADA,DEPT ENGN MANAGEMENT,KINGSTON K7L 2W3,ONTARIO,CANADA
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1982年 / 22卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1016/S0026-2714(82)80180-7
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页数：4
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