ION-SOURCE ATTACHMENT TO THE MI-1201 MASS-SPECTROMETER FOR ANALYZING SECONDARY IONS

被引:0
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作者
ABDUGABBAROV, MS
ADILOV, MY
TURAEV, NY
机构
关键词
D O I
暂无
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
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页码:1188 / 1190
页数:3
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