ABSOLUTE MEASUREMENT OF STRUCTURE FACTORS OF SI SINGLE CRYSTAL BY MEANS OF X-RAY PENDELLOSUNG FRINGES

被引:93
|
作者
HATTORI, H
KURIYAMA, H
KATAGAWA, T
机构
关键词
D O I
10.1143/JPSJ.20.988
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
收藏
页码:988 / &
相关论文
共 50 条