MEASUREMENT OF LIFETIMES OF IONIC EXCITED-STATES USING INELASTIC ELECTRON-PHOTON DELAYED COINCIDENCE TECHNIQUE

被引:58
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作者
SMITH, AJ [1 ]
READ, FH [1 ]
IMHOF, RE [1 ]
机构
[1] UNIV MANCHESTER,DEPT PHYS,SCHUSTER LAB,MANCHESTER M13 9PL,ENGLAND
关键词
D O I
10.1088/0022-3700/8/17/019
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
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页数:11
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