RESIDUAL-STRESSES AND CRACKING IN METAL CERAMIC SYSTEMS FOR MICROELECTRONICS PACKAGING

被引:75
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作者
HSUEH, CH
EVANS, AG
机构
关键词
D O I
10.1111/j.1151-2916.1985.tb09648.x
中图分类号
TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
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