USE OF HIGHER-ORDER REFLECTION FROM MICA CRYSTALS IN X-RAY SPECTROSCOPIC INVESTIGATIONS AT 0.1-0.3 NM (VOL 22, PG 21, 1995)

被引：0
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作者：
PIKUZ, SA
ROMANOVA, VM
SHELKOVENKO, TA
PIKUZ, TA
FAENOV, AY
FERSTER, E
VOLF, D
WEHRHAN, O
机构：
来源：
KVANTOVAYA ELEKTRONIKA | 1995年 / 22卷 / 05期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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共 2 条
  • [1] Use of higher-order reflection from mica crystals in x-ray spectroscopic investigations at 0.1-0.3 nm
    [J]. Quantum Electron, 1 (16):
  • [2] USE OF HIGHER-ORDER REFLECTION FROM MICA CRYSTALS IN X-RAY SPECTROSCOPIC INVESTIGATIONS AT 0.1-0.3-NM
    PIKUZ, SA
    ROMANOVA, VM
    SHELKOVENKO, TA
    PIKUZ, TA
    FAENOV, AY
    FORSTER, E
    WOLF, J
    WEHRHAN, O
    [J]. KVANTOVAYA ELEKTRONIKA, 1995, 22 (01): : 21 - 24
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