UNE METHODE INTERFEROMETRIQUE POUR LA MESURE DES INDICES PRINCIPAUX DES PETITS CRISTAUX

被引:1
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作者
SABATIER, G
机构
关键词
D O I
10.3406/bulmi.1965.5870
中图分类号
O7 [晶体学];
学科分类号
0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;
摘要
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页码:404 / &
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