INVESTIGATIONS OF X-RAY-EXPOSURE USING PLANE SCANNING MIRRORS

被引:13
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作者
BIEBER, M
SCHEUNEMANN, HU
BETZ, H
HEUBERGER, A
机构
来源
关键词
D O I
10.1116/1.582727
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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页码:1271 / 1275
页数:5
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