HISTORY AND FUTURE OF RADIATION-DAMAGE STUDY BY ELECTRON-MICROSCOPY

被引:0
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作者
KIRITANI, M [1 ]
机构
[1] NAGOYA UNIV,SCH ENGN,DEPT NUCL ENGN,CHIKUSA KU,NAGOYA,AICHI 464,JAPAN
来源
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1990年 / 39卷 / 04期
关键词
D O I
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中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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