Anger-camera型中子探测器位置分辨性能研究

被引：1
|
作者：
蔡小杰 [1 ,2 ]
黄畅 [3 ,2 ]
唐彬 [2 ,4 ]
王小胡 [5 ]
机构：
[1] 西南科技大学,核废物与环境安全国防重点学科实验室
[2] 中国科学院高能物理研究所东莞分部
[3] 兰州大学
[4] 散裂中子源科学中心
[5] 深圳技术大学,先进材料测试技术研究中心/工程物理学院
来源：
核科学与工程 | 2024年 / 44卷 / 01期
基金：
广东省自然科学基金;
关键词：
Anger-camera位置重建; 闪烁体中子探测器; SiPM阵列; 位置分辨; SiPM耐辐照特性;
D O I：
暂无
中图分类号：
TL816.3 [];
学科分类号：
082704 ;
摘要：
本文描述用于中国散裂中子源(CSNS)谱仪上，基于Anger-camera位置重建原理的闪烁体中子探测器样机位置分辨性能研究。在BL20中子测试束线上完成了探测器关键器件性能测试，包括硅光电倍增管(Silicon Photon Multiplier Tube, SiPM)阵列位置重建能力测试和耐辐照特性研究，同时对不同光导厚度下探测器位置分辨能力开展测试，发现基于SiPM阵列读出的Anger-camera型闪烁体中子探测器采用300μm的6LiF/ZnS(Ag)闪烁屏和5 mm空气作为光导，其位置分辨最佳可达到0.6 mm。该探测器样机后期可通过大面积阵列拼接，实现中子衍射实验对大面积高位置分辨探测器的需求，其成功研制为加快谱仪建设提供有力的技术支撑。
引用
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页码：233 / 242
页数：10
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  • [1] 用于GPPD谱仪的大面积闪烁体中子探测器性能测试
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