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Re-programmable SEU immune rad-hard FPGA test and burn-in strategy
被引：0
|作者：
Vrignaud, JM
[1
]
机构：
[1] ATMEL Nantes, F-44036 Nantes 3, France
来源：
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
V [航空、航天];
学科分类号：
08 ;
0825 ;
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页数：10
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