Magnetization dynamics and interface studies in ion-beam sputtered Si/CoFeB (8)/MgO (4)/CoFeB (8)/Ta (5) structures (vol 115, 17D127, 2014)

被引：1

作者：

Raju, M. ^{[1
]}

Behera, Nilamani ^{[1
]}

Pandya, Dinesh K. ^{[1
]}

Chaudhary, Sujeet ^{[1
]}

机构：

[1] Indian Inst Technol Delhi, Dept Phys, Thin Film Lab, New Delhi 110016, India

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.4904921

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页数：1