Characterization of MOSFET response to the Xoft X-ray brachytherapy source

被引:0
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作者
Axelrod, S. [1 ]
Rusch, T. [1 ]
机构
[1] Xoft Inc, Fremont, CA USA
关键词
D O I
10.1118/1.2241048
中图分类号
R8 [特种医学]; R445 [影像诊断学];
学科分类号
1002 ; 100207 ; 1009 ;
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