共 50 条
Development and reliability of the SIGMA: A structured interview guide for the Montgomery-Asberg Depression Rating Scale
被引:0
|作者:
Williams, Janet B.
[1
]
Kobak, Kenneth A.
[1
]
机构:
[1] Columbia Univ, New York, NY USA
关键词:
D O I:
暂无
中图分类号:
Q189 [神经科学];
学科分类号:
071006 ;
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页码:S165 / S166
页数:2
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