Use op-amp injection for Bode analysis

被引：0

作者：

Galinski, M ^{[1
]}

机构：

[1] Micrel Semicond, San Jose, CA USA

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：90 / +

页数：2

共 50 条

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