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Risk Factors for Poor Cognitive Outcomes after Critical Illness
被引:0
|作者:
Girard, T. D.
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Jackson, J. C.
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Pandharipande, P. P.
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Thompson, J. L.
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Shintani, A. K.
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Ely, E. W.
[1
,2
]
机构:
[1] Vanderbilt Univ, Sch Med, Nashville, TN 37212 USA
[2] VA Tennessee Valley Healthcare Syst, Nashville, TN USA
关键词:
D O I:
暂无
中图分类号:
R592 [老年病学];
C [社会科学总论];
学科分类号:
03 ;
0303 ;
100203 ;
摘要:
引用
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页码:S105 / S106
页数:2
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