Comment on "thickness-dependent morphology, microstructure, adsorption and surface free energy of sputtered CeO2 films", by Tan et al. Ceram. Int. 46 (2020) 13,925-13931

被引：1

作者：

Paparazzo, Ernesto ^{[1
]}

机构：

[1] CNR, Ist Struttura Mat, Via Fosso Cavaliere 100, I-00133 Rome, Italy

来源：

关键词：

CeO2; Cerium oxides; XPS; Ce3d spectra; Peak-fitting; XPS;

D O I：

10.1016/j.ceramint.2020.09.279

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

页码：4361 / 4362

页数：2