What should it cost to test your chip?

被引：0
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作者：
Aitken, R
Bienek, M
Lies, K
Koenemann, B
Needham, W
机构：
来源：
PROCEEDINGS OF THE IEEE 1997 CUSTOM INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE | 1997年
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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