Single-shot experiments at the soft X-FEL FERMI using a back-side-illuminated scientific CMOS detector (vol 29, pg 103, 2022)

被引：0

作者：

Leveille, Cyril ^{[1
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Desjardins, Kewin ^{[1
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Popescu, Horia ^{[1
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Vodungbo, Boris ^{[2
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Hennes, Marcel ^{[2
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Delaunay, Renaud ^{[2
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Jal, Emmanuelle ^{[2
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De Angelis, Dario ^{[3
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Pancaldi, Matteo ^{[3
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Pedersoli, Emanuele ^{[3
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Capotondi, Flavio ^{[3
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Jaouen, Nicolas ^{[1
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机构：

[1] Synchrotron SOLEIL, LOrme Merisiers, BP48, F-91192 Gif Sur Yvette, France

[2] Sorbonne Univ, CNRS, Labo Chim Phys Mat & Rayonnement, F-75005 Paris, France

[3] Elettra Sincrotrone Trieste, I-34149 Trieste, Italy

来源：

关键词：

D O I：

10.1107/S1600577522001370

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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