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被引:0
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作者
Keller, B
Kerr, R
Walther, R
机构
[1] IBM Corp, Test Design Automat Grp, Endicott, NY 13760 USA
[2] IBM Corp, Test Design Automat Grp, Austin, TX 78758 USA
来源
EE-EVALUATION ENGINEERING | 1999年 / 38卷 / 03期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:126 / +
页数:5
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