Standards vs. reality

被引：0
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作者：
Bennett, D [1 ]
Masone, T [1 ]
机构：
[1] Garwood Labs, Pico Rivera, CA 90660 USA
来源：
EE-EVALUATION ENGINEERING | 2004年 / 43卷 / 04期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
There are some very significant differences between individual NEBS and European standards you need to know before you start testing.
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页数：6
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