首页
学术期刊
论文检测
AIGC检测
热点
更多
数据
A Companion to John F. Kennedy
被引:0
|
作者
:
Blight, James G.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Univ Waterloo, Waterloo, ON, Canada
Univ Waterloo, Waterloo, ON, Canada
Blight, James G.
[
1
]
机构
:
[1]
Univ Waterloo, Waterloo, ON, Canada
来源
:
JOURNAL OF AMERICAN HISTORY
|
2016年
/ 103卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1093/jahist/jaw468
中图分类号
:
K [历史、地理];
学科分类号
:
06 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:836 / 837
页数:3
相关论文
共 50 条
[1]
The Cambridge Companion to John F. Kennedy
Holland, Max
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Washington Decoded, Providence, RI USA
Washington Decoded, Providence, RI USA
Holland, Max
[J].
JOURNAL OF COLD WAR STUDIES,
2015,
17
(04)
: 204
-
206
[2]
John F. Kennedy
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
Qvortrup, Matt
[J].
POLITICAL STUDIES REVIEW,
2016,
14
(01)
: 129
-
130
[3]
John F. Kennedy
Walton, Jennifer
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
St Anselm Coll, Manchester, NH 03102 USA
St Anselm Coll, Manchester, NH 03102 USA
Walton, Jennifer
[J].
JOURNAL OF AMERICAN STUDIES,
2015,
49
(02)
: 441
-
444
[4]
John F. Kennedy
Nash, Philip
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Penn State Univ, University Pk, PA 16802 USA
Penn State Univ, University Pk, PA 16802 USA
Nash, Philip
[J].
HISTORIAN,
2012,
74
(02):
: 349
-
350
[5]
John F. Kennedy
Savage, Sean J.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
St Marys Coll, Notre Dame, IN 46556 USA
St Marys Coll, Notre Dame, IN 46556 USA
Savage, Sean J.
[J].
PRESIDENTIAL STUDIES QUARTERLY,
2016,
46
(03)
: 733
-
+
[6]
Kennedy in Vienna (John F. Kennedy)
Sorensen, Ted
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
Sorensen, Ted
[J].
NEW YORK TIMES BOOK REVIEW,
2008,
: 6
-
6
[7]
KENNEDY,JOHN,F. AND REVISIONISM
THOMPSON, KW
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
THOMPSON, KW
[J].
VIRGINIA QUARTERLY REVIEW,
1994,
70
(03)
: 430
-
443
[8]
The Letters of John F. Kennedy
不详
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
不详
[J].
LIBRARY JOURNAL,
2013,
138
(15)
: 86
-
86
[9]
THE ASSASSINATION OF KENNEDY,JOHN,F.
KASPI, A
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KASPI, A
[J].
HISTOIRE,
1993,
(170):
: 20
-
28
[10]
John F. Kennedy.
Biermann, H
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
Biermann, H
[J].
HISTORISCHE ZEITSCHRIFT,
2005,
281
(02)
: 537
-
539
←
1
2
3
4
5
→