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数据
ICP-OES分析合金触点成分
被引:0
|
作者
:
郑巧玲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
厦门市华测检测技术有限公司
郑巧玲
机构
:
[1]
厦门市华测检测技术有限公司
来源
:
科技与企业
|
2015年
/ 03期
关键词
:
iCAP6300电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES);
触点(电触头);
快速分析;
D O I
:
10.13751/j.cnki.kjyqy.2015.03.220
中图分类号
:
TG115.3 [化学试验法];
学科分类号
:
摘要
:
本方法采用稀硝酸(1:1)在低温(120℃)条件下对样品进行湿法消解,采用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-AES/OES)来同时快速测定银镍合金触点、银氧化镉触点材料中镍、镉及其杂质元素的测定。方法通过消解方法选择、分析条件优化等措施建立快速、准确的合金触点成分分析方法。
引用
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页码:235 / 236
页数:2
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共 2 条
[1]
等离子体发射光谱分析[M]. 化学工业出版社 , 辛仁轩编著, 2005
[2]
JB4107.01-1999,电触头材料化学分析方法总则及一般规定 .
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