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直接测量109Cd活度
被引：1
|作者：
吴学周
李作前
杨元弟
宋黎
王载勇
机构：
[1] 中国科学计量研究院
来源：
关键词：
γ射线源;
刻度;
效率;
荧光分析;
4πe-γ符合法;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
100Cd是一个重要的低能γ射线源和X射线源,其半衰期为462.6d。广泛地用于刻度半导体谱仪的效率和X射线荧光分析中作为X射线源。本文介绍了利用4πβ（PPC）,4πβ（L,S）和4πe-γ符合法测量109Cd活度的原理,并对几朴方法作了比较和讨论。
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