K0.5Bi0.5TiO3—Na0.5Bi0.5TiO3系统铁电陶瓷相界的X射线研究

被引：7

作者：

郭常霖 ^{[1
]}

吴毓琴 ^{[1
]}

王天宝 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院上海硅酸盐研究所

来源：

关键词：

铁电陶瓷; 电子陶瓷; 相界; TiO3; Na; 点阵常数; 射线衍射; 相变温度; 相变点; Bi;

D O I：

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中图分类号：

学科分类号：

摘要：

用X射线衍射方法测定了KBiTiO-Na(0.5)BiTiO系统不同组分试样的点阵常数和相变温度,确定了四方-三方相界组成。给出了KBiTiO和NaBiTiO的多晶X射线衍射数据。

引用

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