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遗传算法优化的SVM模拟电路故障诊断方法
被引:16
|
作者
:
陈世杰
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机构:
电子科技大学自动化工程学院
陈世杰
连可
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电子科技大学自动化工程学院
连可
王厚军
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电子科技大学自动化工程学院
王厚军
机构
:
[1]
电子科技大学自动化工程学院
来源
:
电子科技大学学报
|
2009年
/ 38卷
/ 04期
关键词
:
模拟电路;
故障诊断;
遗传算法;
支持向量机;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP18 [人工智能理论];
学科分类号
:
081104 ;
0812 ;
0835 ;
1405 ;
摘要
:
提出了一种利用遗传算法优化的SVM多分类决策树(GADT-SVM)实现模拟电路故障诊断的新方法。介绍了GADT-SVM的设计思想和算法原理;利用传递函数对模拟电路进行建模,并用小波分解提取电路冲激响应的能量分布作为故障特征;使用GADT-SVM对故障特征样本进行分类实现故障诊断。仿真结果表明,与未经优化的DAG-SVM和DT-SVM故障诊断方法相比,该方法可以减小诊断"误差积累"的影响,具有更好的误差控制能力。
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一种基于遗传算法的SVM决策树多分类策略研究
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