高组份Al值的AlxGa1-x As和AlxGa1-x As/GaAs/AlxGa1-xAs/GaAs多层结构的MOCVD生长

被引:0
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作者
高鸿楷
云峰
张济康
龚平
候洵
机构
[1] 西安光机所
[2] 西安光机所 710068
关键词
MOCVD; AlGaAs—GaAs; 多层结构;
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
用自制常压MOCVD系统,在半绝缘GaAs衬底上生长高Al组份Al;Ga;As(其x值达0.83),和Al;Ga;As/GaAs/Al;Ga;As/GaAs多层结构,表面镜面光亮。生长层厚度从几十到十几μm可控,测试表明外延层晶格结构完整,x值调节范围宽,非有意掺杂低,高纯GaAs外延层载流子浓度n;=1.7×10;cm;,n;=1.4×10;cm;,迁移率μ;=5900cmcm;/V.S,μ;=55500cm;/V.S。用电子探针,俄歇能谱仪测不出非有意掺杂的杂质,各层间界面清晰平直。 对GaAs,AlGaAs生长层表面缺陷,衬底偏角生长温度及其它生长条件也进行了初步探讨。
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