一种新型NAND flash的寿命测试方法

被引：1

作者：

张朝锋 ^{[1
]}

机构：

[1] 上海交通大学微纳电子系

来源：

集成电路应用 | 2016年 / 07期

关键词：

NAND flash; 快速测试; 寿命测试;

D O I：

10.19339/j.issn.1674-2583.2016.07.008

中图分类号：

TP333 [存贮器];

学科分类号：

081201 ;

摘要：

在NAND flash测试中,需要对其使用寿命进行监控和测试,以便有效筛选出不合格产品,避免在后续封装以及使用过程中造成不必要的经济损失。关于NAND flash的寿命测试,即检查NAND flash能承受的最大编程/擦除次数,目前常规使用的编程以及擦除的方法需要很长测试时间,提高了测试成本。提出一种测试NAND flash寿命的快速测试方法,将寿命测试时间由原来的1.5h减小到0.13h,节约91%的寿命测试时间。

引用

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