EDXRF法测定V-Ta合金中Ta含量

被引：1
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作者：
刘露
余春荣
赵建龙
肖吉群
王雯
高戈
机构：
[1] 中国工程物理研究院材料研究所
来源：
核电子学与探测技术 | 2016年 / 36卷 / 07期
关键词：
V-Ta合金; EDXRF法; Ta含量;
D O I：
暂无
中图分类号：
TG115.33 [];
学科分类号：
摘要：
为适应新型合金材料（V-Ta合金）研制的需要,建立了用能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）法测定V-Ta合金中Ta含量的分析方法。该方法将溶解的V-Ta合金切屑样制成滤纸片试样,用能量色散X射线荧光光谱仪测定其Ta含量。该方法简便、快速,测定Ta含量在25%40%范围内的样品时,其测量结果的相对标准偏差（n=6）不大于1%。
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