还原气氛烧成Y5V瓷粉的结构与介电性能

被引：2

作者：

王森

张跃

纪箴

黄运华

顾友松

周成

机构：

[1] 北京科技大学材料科学与工程学院固体电解质冶金测试技术国家专业实验室

来源：

电子元件与材料 | 2005年 / 07期

基金：

国家杰出青年科学基金; 国家自然科学基金重点项目;

关键词：

无机非金属材料; Y5V; 钛酸钡; MLCC; 介电常数; 居里点;

D O I：

10.14106/j.cnki.1001-2028.2005.07.007

中图分类号：

TM28 [电工陶瓷材料];

学科分类号：

摘要：

运用SEM和XRD等手段,研究了掺杂对Y5V钛酸钡陶瓷材料结构和性能的影响。SEM和能谱的研究结果表明:掺杂促进了材料的烧结,Nd5+聚集在晶界的位置,形成针状的晶粒。XRD结果表明,掺杂材料中有新相形成,掺杂组分能够促进钛酸钡材料居里点向低温方向移动,并促进介温曲线平滑。还发现,由于还原气氛烧结,材料中电导损耗增加导致介质损耗上升。

引用

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