共 2 条
- [1] 扫描电子显微技术与X射线显微分析[M]. 科学出版社 , (美)戈尔茨坦(Goldstein, 1988
- [2] 金属电子显微分析[M]. 机械工业出版社 , 陈世朴, 1982
探讨用SEM-EDS分析材料的碳含量
被引：7
|作者：
吴东晓
郭莉萍
张大同
机构：
[1] 华南理工大学测试中心 广东广州510641
[2] 华南理工大学测试中心
来源：
关键词：
碳含量;
表面渗碳;
SEM-EDS;
能谱仪;
碳元素;
扫描电镜;
EDS;
D O I：
暂无
中图分类号：
TG115 [金属的分析试验（金属材料试验）];
学科分类号：
080502 ;
摘要：
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