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Cost-Effective Test Solutions for Smart Card and Other Integrated Flash Applications
被引:1
|
作者
:
Thomas M. Trexler
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CredenceSystemsCorporation
Thomas M. Trexler
机构
:
[1]
CredenceSystemsCorporation
来源
:
半导体技术
|
2004年
/ 05期
关键词
:
Flash;
In;
test;
Test;
D O I
:
10.13290/j.cnki.bdtjs.2004.05.018
中图分类号
:
TN407 [测试和检验];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页码:62 / 63+67 +67
页数:3
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