ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现

被引：13

作者：

蒋常斌 ^{[1
]}

生晓坤 ^{[1
]}

李杰 ^{[1
]}

宋泽明 ^{[1
]}

机构：

[1] 北京自动测试技术研究所

来源：

关键词：

ATE; ARM; Cortex-M3; IC测试; BC3192;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。

引用

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