基于55K SNP芯片检测小麦株高QTL

株高是小麦遗传改良的重要性状之一，为进一步挖掘小麦株高的数量性状位点（quantitative trait locus,QTL），以小麦品系W7268和小麦品种川育12杂交得到的包含180个家系的重组自交群体（RIL）为材料，利用55K SNP芯片构建高密度遗传图谱，根据3年共5个环境的数据对株高性状进行QTL定位分析.结果表明，该图谱包含1 598个SNP标记，全长2 363.54 cM，含有22个连锁群，覆盖全部21条染色体. A、B、D三个基因组分别含有428、703和467个标记；覆盖染色体长度分别为741.89、678.17和943.48 cM.对株高性状进行QTL分析，共检测出52个QTL，分布于1A、4A、5A、3B、4B、6B、7B、2D、3D、5D和7D染色体上，有25个QTL的加性效应来源于母本W7268，其余来自父本川育12.单个QTL表型解释变异率为1.34%-27.61%，其中稳定主效的QTL有两个，分别为QPh.cib-4B.1和QPh.cib-2D.1，其贡献率分别为6.43%-27.61%和4.90%-11.97%.亲本及群体的Ppd-D1标记检测及遗传效应分析结果表明，QPht.cib-2D.1可能为Ppd-D1，相较于Ppd-D1b，单倍型Ppd-D1a可降低株高0.77-5.55 cm(0.83%-5.86%).本研究建立的遗传图谱可用于有效识别和发掘优异的遗传位点，鉴定的小麦株高QTL可用于小麦株高的分子标记辅助育种.（图3表3参29）