PECVD SiO2-SiNX叠层钝化膜的研究

被引:6
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作者
韩培育 [1 ,2 ]
季静佳 [2 ,3 ]
王振交 [2 ]
李果华 [1 ,3 ]
机构
[1] 江南大学理学院
[2] 无锡尚德太阳能电力有限公司
[3] 江苏省(尚德)光伏技术研究院
关键词
多晶硅; 太阳电池; PECVD; 氮化硅; 二氧化硅; 减反射; 钝化;
D O I
10.19912/j.0254-0096.2010.12.005
中图分类号
TM914.4 [太阳能电池];
学科分类号
080502 ;
摘要
首先使用正交设计法对SiNX和SiO2膜的PECVD(等离子体增强化学气相沉积)特性进行了研究,分别得到了两种膜的最佳沉积条件。然后使用PECVD在P型多晶硅片发射极上沉积了SiO2-SiNX叠层钝化膜,并与SiNX单层钝化膜进行比较。通过测试硅片在退火前后少子寿命的变化,考察了两种钝化膜对太阳电池发射极的钝化效果,结果表明SiO2-SiNX叠层膜具有更好的钝化效果。利用反射率测试仪测试了两种膜的反射率,其反射率曲线基本相同。最后,测量了采用该叠层膜制作的太阳电池的量子效率和电性能,其短路电流和开路电压均比采用SiNX单层膜的电池要好,转换效率提高了0.25%。
引用
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页码:1549 / 1552
页数:4
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共 4 条
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