γ-辐照对纯Y2SiO5和Eu3+∶Y2SiO5晶体光谱性能的影响

被引：0
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作者：
庞辉勇
赵广军
介明印
朱江
何晓明
徐军
机构：
[1] 中国科学院上海光学精密机械研究所
来源：
光学学报 | 2005年 / 12期
关键词：
光学材料; 晶体; 吸收光谱; 辐照; 色心;
D O I：
暂无
中图分类号：
O734 [晶体的光学性质];
学科分类号：
0803 ;
摘要：
研究了γ-辐照前后纯Y2SiO5和Eu3+掺杂的Y2SiO5晶体吸收光谱的变化,辐照后,未退火和氢气退火的纯Y2SiO5晶体在260～270 nm和320 nm波段产生了附加吸收峰,分别是由F心和O-心的吸收引起的;经过空气退火的纯YSO晶体中,由于消除了氧空位,因此辐照后没有出现色心吸收峰。在Eu3+∶Y2SiO5晶体中,不但有相同的F心和O-心吸收峰,而且还有Eu2+离子在300 nm和390 nm的吸收峰。随着辐照剂量的增加,色心附加吸收峰增强。空气退火能减少Eu3+∶Y2SiO5晶体中的色心,而氢气退火能增加色心。
引用
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页码：1655 / 1658
页数：4
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