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B掺杂Sr2MgSi2O7电子结构的理论计算
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作者
:
姜洪义
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武汉理工大学材料科学与工程学院
姜洪义
姬同坤
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武汉理工大学材料科学与工程学院
李家亮
机构
:
[1]
武汉理工大学材料科学与工程学院
来源
:
武汉理工大学学报
|
2008年
/ 09期
关键词
:
第一性原理;
Sr2MgSi2O7;
B掺杂;
电子结构;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O641.1 [化学键理论];
学科分类号
:
摘要
:
利用基于密度泛函理论的超软赝势方法(PWP),结合局域密度近似(LDA)计算替位式掺杂B的Sr2MgSi2O7的电子结构。预测了B掺杂Sr2MgSi2O7的晶胞参数;对引入杂质前后电子结构的异同以及价键的性质进行了对比分析,结果表明杂质引入后,B所带正电荷为0.89,B—O键键长为1.494 8,B—O键表现出共价键性质,能带结构中出现了新的定域能级,态密度出现了新峰,说明B掺杂可以延长余辉时间。
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