Simultaneous determination of reflectance spectra along with {ψ(E), Δ(E)} in multichannel ellipsometry: Applications to instrument calibration and reduction of real-time data

被引:0
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作者
An, Ilsin [1 ]
Lee, Joungchel [1 ]
Hong, Byungyou [1 ]
Collins, R.W. [1 ]
机构
[1] Hanyang Univ, Ansan, Korea, Republic of
来源
Thin Solid Films | 1998年 / 313-314卷 / 1-2期
基金
美国国家科学基金会;
关键词
D O I
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