NIST provides focal point for industry VPN/IPsec interoperability testing worlds first demonstration of in situ MBE growth using X-ray fluorescence enables direct feedback for compositional control of films being deposited 1.5 μm distributed-Bragg-reflector waveguide lasers enable advancements in Metrology for WDM components and systems

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Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology | 1999年 / 104卷 / 01期
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