FOUR-MICRON PERIOD ION-IMPLANTED BUBBLE TEST CIRCUITS.

被引：0
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作者：
Nelson, T.J. [1 ]
Fratello, V.J. [1 ]
Muehlner, D.J. [1 ]
Roman, B.J. [1 ]
Slusky, S.E.G. [1 ]
机构：
[1] Bell Communications Research, Murray, Hill, NJ, USA, Bell Communications Research, Murray Hill, NJ, USA
来源：
IEEE Transactions on Magnetics | 1986年 / MAG-22卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1109/tmag.1986.1064278
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
13
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