Determination of flash temperature in intermittent magnetic head/disk contacts using magnetoresistive heads: Part II - Experimental investigation

被引：0
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作者：
Li, Yufeng [1 ]
Kumaran, Aric R. [1 ]
机构：
[1] Seagate Technology, Bloomington, United States
来源：
Journal of Tribology | 1993年 / 115卷 / 01期
关键词：
Flash temperature - Intermittent magnetic head/disk contacts - Magnetoresistive heads;
D O I：
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