New Techniques for Electron Microscopy Characterization of Small Metal Particles.

被引:0
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作者
Yacaman, M.Jose [1 ]
机构
[1] Instituto De Fisica, Unam, Apartado Postal 20-364, Mexico 20, D.F., Mexico
关键词
D O I
10.1016/S0167-2991(08)65180-0
中图分类号
学科分类号
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页码:225 / 232
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