High-resolution reflection electron microscopy of Si(111)7×7 surfaces using a high-voltage electron microscope

被引:0
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作者
机构
[1] Koike, Hideki
[2] Kobayashi, Kunio
[3] Ozawa, Soh-ichiro
[4] Yagi, Katsumichi
来源
Koike, Hideki | 1600年 / 28期
关键词
D O I
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