Accurate ARL calculation for EWMA control charts monitoring normal mean and variance simultaneously

被引：0
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作者：
Knoth, Sven [1 ,2 ]
机构：
[1] Advanced Mask Technology Center, Dresden, Germany
[2] Engineering, AMTC Dresden, Postfach 110161, Dresden D-01330, Germany
来源：
Sequential Analysis | 2007年 / 26卷 / 03期
关键词：
Control charts - Computational methods - Normal distribution - Flowcharting;
D O I：
10.1080/07474940701404823
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