Accidental coincidence counts observed in mandel dip measurement using independently produced photon pairs at 1550nm

被引：0

作者：

Yoshizawa, Akio ^{[1
,2
]}

Xue, Yinghong ^{[1
,2
]}

Tsuchida, Hidemi ^{[1
,2
]}

机构：

[1] National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8568, Japan

[2] CREST, Japan Science and Technology Agency (JST), Kawaguchi, Saitama 332-0012, Japan

来源：

Japanese Journal of Applied Physics | 2010年 / 49卷 / 12期

关键词：

Compendex;

D O I：

122802

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Waveguides

引用

共 3 条