RFID systems for trade fairs and conferences: Investigation of the magnitudes of influence on the visitors' acceptance

被引：0

作者：

Bretschneider, Ulrich ^{[1
]}

Leimeister, Jan Marco ^{[1
]}

Krcmar, Helmut ^{[1
]}

机构：

[1] Lehrstuhl für Wirtschaftsinformatik, Technische Universität München, Boltzmannstr. 3, 85748 Garching b. München, Germany

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