Proceedings of the 2nd International Workshop on Random Testing, RT 2007, Co-located with the 22nd IEEE/ACM International Conference on Automated Software Engineering, ASE 2007: Preface

被引:0
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作者
LRI, Université de Paris-Sud, France [1 ]
不详 [2 ]
不详 [3 ]
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关键词
D O I
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