AN APPLICATION OF PARETO ANALYSIS AND CAUSE-AND-EFFECT DIAGRAM IN RAW HIDE AND SKIN DEFECTS MINIMIZATION IN ETHIOPIA: SELECTED CASE DIRE DAWA CITY SLAUGHTERHOUSE (ETHIOPIA)

被引：0

作者：

Negash, Berihun ^{[1
]}

机构：

[1] Dire Dawa University, Institute of Technology, Postal Address: 1362, Dire Dawa,3000, Ethiopia

来源：

Leather and Footwear Journal | 2023年 / 23卷 / 01期

关键词：

All Open Access; Gold;

D O I：

10.24264/lfj.23.1.5

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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