DAMAGE CREATED IN SILICON BY BFN+(1 LESS-THAN-OR-EQUAL-TO N LESS-THAN-OR-EQUAL-TO 3) AND PFN+(1 LESS-THAN-OR-EQUAL-TO N LESS-THAN-OR-EQUAL-TO 5) IMPLANTATIONS

被引:22
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作者
GROB, A [1 ]
GROB, JJ [1 ]
GOLANSKI, A [1 ]
机构
[1] CTR NATL ETUD TELECOMMUN, CNS, F-38240 MEYLAN, FRANCE
关键词
D O I
10.1016/S0168-583X(87)80014-9
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
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