LOW-FREQUENCY MEASUREMENT OF SMALL DELAY TIMES WITH APPLICATION TO MICROWAVE TRANSISTOR MEASUREMENT

被引：2
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作者：
ZAKAREVICIUS, RA
机构：
来源：
PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS | 1972年 / 60卷 / 07期
关键词：
D O I：
10.1109/PROC.1972.8802
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页数：1
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